JavaScript deaktiviert! Das Abschicken einer Bestellung ist bei deaktiviertem JavaScript leider NICHT möglich!
Es stehen Ihnen nicht alle Shopfunktionalitäten zur Verfügung. Bitte kontrollieren Sie Ihre Interneteinstellungen. Für ein optimales Einkaufserlebnis empfehlen wir, JavaScript zu aktivieren. Bei Fragen: webmaster@conrad.de
{{#unless user.loggedIn}} {{#xif " digitalData.page.category.pageType !== 'checkout_confirmation' " }}
{{/xif}} {{/unless}}

Entwicklungsboard Texas Instruments DAC3162EVM

Texas Instruments
Bestell-Nr.: 1188867 - 62
Teile-Nr.: DAC3162EVM |  EAN: 2050002069633
  • Abbildung ähnlich
  • Entwicklungsboard Texas Instruments DAC3162EVM
287,75 €
oder z.B. 12 Raten á 23,98 €  ‑  Mehr erfahren
inkl. MwSt., versandkostenfrei
24 Monate gesetzl. Gewährleistung

Die 48 Monate Langzeit-Garantie - Das Plus an Sicherheit


Bestellen Sie die 48 Monate Langzeit-Garantie bei diesem Produkt für einmalig je

20,00 €

inkl. MwSt.


  • Typ: DAC3162EVM
  • Hersteller: Texas Instruments
  • Kategorie: Entwicklungsboard
  • Tool-Typ: Evaluation-Kit
  • Betriebsspannung: 5 V

Evaluationsmodul DAC3162

Technische Daten

Typ
DAC3162EVM
Hersteller
Texas Instruments
Kategorie
Entwicklungsboard
Tool-Typ
Evaluation-Kit
Betriebsspannung
5 V

Dokumente & Downloads

Beschreibung

Das DAC3162EVM ist eine Leiterplatine, die es Entwicklern erlaubt die Leistungsfähigkeit des Dual-Kanal-Digital-Analog-Wandlers (DAC) DAC3162 von Texas Instruments mit 12 Bit, 500 MSPS, 12 Byte großer DDR LVDS-Dateneingabe, sehr geringem Verbrauch, sehr geringer Größe und Latenz zu evaluieren. Das EVM bietet eine flexible Umgebung um den DAC3162 zu testen, mit oder ohne einem direkten RF-TRF370333, einem 350 MHz bis 4 GHz Quadratur-Modulator zur Aufkonvertierung von I/Q-Ausgängen aus dem DAC zum RF.
Hinweise
Für weitere Informationen beachten Sie bitte die Produkt-Spezifikationen des Hersteller-Datenblattes.
Optionales Zubehör (2)
{{#if user.showB2bHint}} *zzgl. gesetzl. MwSt, zzgl. Versand {{else}} *inkl. MwSt, zzgl. Versand {{/if}}
Nach oben