HIOKI IM3533-01 - LCR-Messgerät mit Frequenz-Sweep, DC und 1 mHz bis 200 kHz

LCR-Messgerät mit integriertem Frequenz-Sweep, DC und 1 mHz bis 200 kHz, Messgeschwindigkeit 2 ms, Grundgenauigkeit ±0,05%, Transformatormodus, DC-Widerstand, USB und Handler I/O, optional LAN, RS-232C und GP-IB

Typische Anwendungen
- Mehrfrequenzprüfung passiver Bauelemente mit Messung an definierten Frequenzpunkten 
- Wareneingangsprüfung von Kondensatoren, Induktivitäten und Widerständen mit Messung bei mehreren Frequenzen 
- Automatisierte End-of-Line-Prüfungen mit sequentieller Frequenzmessung und numerischer Ergebnisausgabe 
- Transformator- und Spulenprüfung mit frequenzabhängigen Messungen im Transformatormodusen 

Detaillierte Produktübersicht
Für die Bewertung passiver Bauelemente wie Kondensatoren, Widerständen, Induktivitäten und gewickelten Komponenten genügt in vielen Anwendungen ein LCR-Messgerät wie der IM3533. Sind jedoch Messungen an mehreren definierten Frequenzpunkten erforderlich, wird ein LCR-Messgerät mit zusätzlicher Frequenz-Sweep-Funktion benötigt. 

Der IM3533-01 ist für diese Anwendungen ausgelegt und erweitert die Messleistung des IM3533 um eine integrierte Frequenz-Sweep-Funktion. Messungen von DC und 1 mHz bis 200 kHz werden mit einem garantierten Messbereich von 10 mΩ bis 200 MΩ, einer Grundgenauigkeit von ±0,05% und einer typischen Messgeschwindigkeit von 2 ms durchgeführt. Prüfsignalspannung und -strom lassen sich im Bereich von 5 mV bis 5 V beziehungsweise 10 μA bis 50 mA einstellen. Für Messungen an Bauelementen mit niedriger Impedanz stehen im Modus zur hochgenauen Messung Ströme bis 100 mA zur Verfügung. 

Frequenz-Sweep und erweiterte Messfunktionen
Der IM3533-01 verfügt über eine integrierte Frequenz-Sweep-Funktion zur sequentiellen Messung an mehreren definierten Frequenzpunkten. Innerhalb des Frequenzbereichs von DC und 1 mHz bis 200 kHz können bis zu 800 Messpunkte konfiguriert werden. Die Messergebnisse werden numerisch dargestellt und können über die verfügbaren Schnittstellen zur externen Weiterverarbeitung ausgelesen werden. Damit lassen sich automatisierte Mehrfrequenzprüfungen realisieren.

Neben klassischen LCR-Messungen bietet der IM3533-01 eine hochgenaue Messung von Bauelementen mit niedriger Impedanz, bei der der Ausgangswiderstand auf 25 Ω reduziert wird. Dadurch verbessert sich die Messstabilität bei Spulen mit geringer Induktivität und bei Elektrolytkondensatoren.

Ein dedizierter Transformatormodus unterstützt die Bewertung gewickelter Bauelemente durch die direkte Messung von Übersetzungsverhältnis, gegenseitiger Induktivität sowie der Differenz zwischen Primär- und Sekundärinduktivität. Eine manuelle Berechnung aus einzelnen LCR-Messwerten ist dadurch nicht erforderlich. 

DC-Widerstand, Selektion und Bias-Funktionen
Der IM3533-01 bietet die DC-Widerstandsmessung von Spulen und Wicklungen innerhalb seines garantierten Messbereichs von 10 mΩ bis 200 MΩ. Mit optionaler Temperaturkompensation über den 9478 Mantel-Temperaturfühler können Widerstandswerte auf eine definierte Referenztemperatur bezogen werden, um temperaturabhängige Einflüsse in Produktion und Wareneingang zu berücksichtigen. Comparator- und BIN-Funktionen ermöglichen die Grenzwertprüfung und Selektion von Bauteilen für automatisierte Pass/Fail-Entscheidungen in Prüfabläufen von Produktion und Wareneingang.

Für spannungsabhängige Messungen ist eine interne DC-Bias-Quelle von ±5 V integriert. Bei Bedarf an höheren Bias-Spannungen oder -Strömen können optionale externe DC-Bias-Einheiten verwendet werden. Mit der DC-Bias-Spannungseinheit 9268-10 lassen sich externe DC-Spannungsquellen bis ±40 V in den Messpfad einkoppeln. Die DC-Bias-Stromeinheit 9269-10 ermöglicht den Anschluss externer DC-Stromquellen bis 2 A. 

Bedienung und Systemintegration
Ein 5,7 Zoll Farb-TFT-Touchdisplay erlaubt den direkten Zugriff auf Messparameter und Ergebnisse. Messdaten können zur Dokumentation und Weiterverarbeitung auf einem USB-Speichermedium abgelegt werden. USB und Handler I/O sind als Standardschnittstellen integriert. Optionale LAN-, RS-232C- und GP-IB-Schnittstellen ermöglichen die Einbindung in automatisierte Prüfsysteme und bestehende Fertigungsumgebungen. Der IM3533-01 wurde in Japan entwickelt und wird dort auch gefertigt. Seine Konstruktion ist auf langfristig reproduzierbare Messergebnisse in Entwicklungs- und Produktionsanwendungen ausgelegt