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Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
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Highlights & Details
Ergonomisches Design und externer Sensor für höchsten Bedienkomfort
- Ergonomisches Design und externer Sensor für höchsten Bedienkomfort
Technische Daten
- Wäge-/Messbereich: 100 | 1250 µm
- Ablesbarkeit [d]: 0,1 | 1 µm
- Nettogewicht: ,1 kg
- Abmessungen (B×T×H): 131×65×28 mm
- Produkt-Art
Schichtdicken-Messgerät
- Messart
eisenhaltige Substrate
- Messbereich
0 - 1250 µm
Werksstandard (ohne Zertifikat)
- Abm.
(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm
- Gewicht
750 g
- Anzeige
LCD
- Auflösung
0.1 µm
- Genauigkeit
3 %
- Inhalt
1 St.
- Messbereich (max.)
1250 µm
- Messbereich (min.)
0 µm
- Messmethode
Ultraschall
- Breite
21 cm
- Höhe
5.3 cm
- Länge
25 cm
- Zifferhöhe
10 mm
- Anzeige (Details)
LCD
- UKCA
Ja
Dokumente & Downloads
Datenblatt
Datenblatt 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Bedienungs- und Sicherheitshinweise
Bedienungs- und Sicherheitshinweise 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Information
Information 756160 Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm
Beschreibung
Externer Sensor zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte. Datenschnittstelle RS-232 serienmäßig. Nullplatte und Justierfolien inklusive. Lieferung im robusten Tragekoffer. Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen. Wählbare Einheiten: µm, inch (mil). Auto-Power-Off.
Lieferumfang
- Tragekoffer
- Bedienungsanleitung
- F- Messkopf (Eisen)
- Distanzfolien
- Nullplatte (Eisen)
- Batterien.