Der STHS34PF80-Sensor von ST Microelectronics wurde entwickelt, um die präzise Schwarzkörperstrahlung (wie durch das Plancksche Gesetz beschrieben) eines Objekts zu messen. Außerdem überwacht es die Umgebungstemperatur innerhalb seines 80°-Sichtfelds. Der Sensor besteht aus einer Matrix schwebender Vakuum-Thermotransistoren (MOS), die in zwei Teile geteilt sind, von denen einer IR-Strahlung ausgesetzt und der andere abgeschirmt ist. Der Differenzwert zwischen den Segmenten ermöglicht es dem Sensor, Selbsterwärmungseffekte zu beseitigen. Breakout-Board Abmessungen: 1 x 1" Zwei Qwiic-Anschlüsse:I2 C-Adresse (7-Bit): 0x5A (Standard) Vier Befestigungslöcher:4-40-Schrauben kompatibel Sechs PTH-Pins:3V3, GND, SCL, SDA, CS, INT Power-LED (rot) STHS34PF80-Funktionen Spannungsbereich: 1,7 bis 3,6 V, Stromaufnahme: 10 µA Schnittstellen: I2C oder SPI Optische Wellenlänge: 5 bis 20 µm Reichweite: 4 m (Objekte 70 x 25 cm² groß) Eingebaute Erkennungsalgorithmen: Identifizieren Sie stationäre Objekte Unterscheiden Sie zwischen stationären und sich bewegenden Objekten Sichtfeld: 80° Ausgangsdatenrate: 0,25 bis 30 Hz IR-Empfindlichkeit: 2000 LSB/°C RMS-Rauschen: 25 LSBrms Betriebstemperatur: -40 bis 85°C (Standardverstärkungsmodus) Sensorgenauigkeit: ±0,3°C (lokal) One-Shot-Modus Werkskalibriert "